宏观角分辨光谱测量系统
2024年04月01日 20:53
| 设备简介 |
| 宏观角分辨光谱测量系统是专门针对宏观尺度样品角分辨光谱测试的仪器，是可实现变换角度测试样品的反射率和透射率等，主要与光纤、光谱仪和电脑连接形成一套完整的易于操作的光谱测量系统，搭配高信噪比的光谱仪，可支持绝对光谱效率的检测，经过标准反射率与透射率物质验证，可实现优于1%的反射率、透射率测量准确性。适配的专有软件，界面丰富，功能齐全，不仅可实现自动化多模式光谱数据采集与光谱显示，还可实现复杂的数据分析功能，包括能带、色度以及散射分布等。 |
| 性能指标 |
光谱范围：250 ~ 2500 nm
落射光斑：0.88 mm
角度精度：±0.05°
最小步距角：0.0012°
功耗：50 W |
| 仪器功能 |
可实现全角度测量，入射角度可调范围0~180°，接收角度可调范围0~360°，可轻松实现0角度背反射光谱测量。
提供上反射、下反射、透射、散射、 辐射、自由、编程共7种测量模式。
样品台可实现前后旋转、左右旋转、左右平移、水平旋转和升降变动共5个维度的调节。 |
| 应用范围 |
| 可应用于光子晶体（Photonic Crystals）、表面等离子体激元材料（Surface Plasmonics）、超材料（Meta-materials）以及光子石墨烯（Graphene）等功能性光子材料的研究的发展。 |
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